時期やカテゴリーで
キーワード
動画種別



質問


開催日/収録日






日から 日まで
受講レベル






配布資料


研修の提供

カテゴリー
閉じる

2025年3月24日(月)より、クレジットカード決済の手続きに本人認証サービス(3Dセキュア2.0)を導入いたしました。
クレジットカード決済の手続きでは、本人認証サービス(3Dセキュア2.0)に対応しているクレジットカードのみがご利用になれます。

本人認証サービス(3Dセキュア2.0)についての詳細は下記をご覧ください。
https://support.deliveru.jp/faq/docs/309

メニュー
2025/05/19(月) 13:00 ON AIR
2025年5月19日開催

縦型GaNパワーデバイスの性能向上、信頼性確保、社会実装に向けた課題とその克服に向けた最新技術動向と今後の展望

縦型GaNパワーデバイスの特徴・優位性、GaN縦型トレンチMOSFETとパワーダイオード、イオン注入によるプレーナゲート型GaN縦型MOSFET、QST基板とCFB技術の共創による縦型GaNの普及に向けた新技術開発について紹介!
質問OK 初~中級者向け 返金保証
49,500 (税込)
4時間5分 詳細へ
2025/05/18 17:00 まで
ivh5R9D0

視聴期間/スケジュール

以下の期間でライブ配信を行ないます。
2025/05/19 13:00 から 2025/05/19 17:05 まで

イベント概要

★2025年5月19日WEBでオンライン開講。東海国立大学機構 名古屋大学 加地氏、富士電機株式会社 田中氏、沖電気工業株式会社 谷川氏が、【縦型GaNパワーデバイスの性能向上、信頼性確保、社会実装に向けた課題とその克服に向けた最新技術動向と今後の展望】について解説する講座です。

■本講座の注目ポイント

★縦型GaNパワーデバイスの特徴・優位性、GaN縦型トレンチMOSFETとパワーダイオード、イオン注入によるプレーナゲート型GaN縦型MOSFET、QST基板とCFB技術の共創による縦型GaNの普及に向けた新技術開発について紹介!

カリキュラム/プログラム

【本セミナーの主題および状況・本講座の注目ポイント】

■本セミナーの主題および状況(講師より)

★近年、脱炭素・省エネルギー社会を目指した取り組みが盛んになり、電力変換における高効率化も重要な課題となっております。パワーデバイスはその基盤をなす技術で、より低損失性能が要求されております。GaNはSiCと並び、次世代のパワーデバイスと期待される材料で、開発が進められております。

★縦型GaNデバイスは、Si、SiCに代わる次世代の低損失パワースイッチング素子として期待されております。近年のGaN自立基板技術発展に伴い、各種プロセス技術の開発が進められ、縦型GaNデバイスのポテンシャルの高さを実証するデータが得られてきているが、実用化に向けてはまだ多くの課題があります。特に、デバイス製造工数が少なく高速動作性に優れたプレーナゲート型MOSFETの実現には、イオン注入による電導性制御が不可欠であります。

■注目ポイント

★縦型GaNパワーデバイスの特徴・優位性、現在開発中のGaN縦型トレンチMOSFET及びパワーダイオードの開発状況について解説!

★イオン注入によるプレーナゲート型GaN縦型MOSFET開発の現状、課題と今後の展望について、最新の研究成果を交えて概説!

★QST(Qromis Substrate Technology)基板とCFB(Crystal Film Bonding)技術の共創による、縦型GaNの普及に向けた新技術を紹介!

講座担当:牛田孝平

≪こちらの講座は、WEB上での開催のオンライン講座になります≫

【第1講】 GaNパワーデバイスの特徴と縦型トレンチMOSFETの開発状況

【時間】 13:00-14:30

【講師】東海国立大学機構 名古屋大学 特任教授 加地 徹 氏

【講演主旨】

 近年、脱炭素・省エネルギー社会を目指した取り組みが盛んになり、電力変換における高効率化も重要な課題となっている。パワーデバイスはその基盤をなす技術で、より低損失性能が要求されている。GaNはSiCと並び、次世代のパワーデバイスと期待される材料で、開発が進められている。本講演では、縦型GaNパワーデバイスの特徴・優位性について解説するとともに、現在開発中のGaN縦型トレンチMOSFET及びパワーダイオードの開発状況について説明し、理解を深めてもらう。



【プログラム】

1.GaNの物性と強み

2.GaNパワーデバイスの特徴

3.縦型パワーデバイスの現状と課題
 3.1 縦型構造とトレンチMOSFETプロセス要素技術課題
 3.2 要素技術の現状
  3.2.1 結晶成長技術
  3.2.2 トレンチ加工技術
  3.2.3 ゲート絶縁膜とチャネル移動度
  3.2.4 イオン注入技術
  3.2.5 GaN基板開発の現状
 3.3 縦型パワーデバイスの実際
  3.3.1 イオン注入を用いた終端構造
  3.3.2 Junction Barrier Schottky (JBS) ダイオード
  3.3.3 JFET
  3.3.4 MOSFET
 3.4 今後の展望

4.期待される応用とまとめ

【質疑応答】



【キーワード】

GaNパワーデバイス、低オン抵抗、高耐圧、GaN-MOSFET、高効率



【講演のポイント】

GaNの持つポテンシャルを最大限生かすには、要素技術の開拓が必須であった。それらの要素技術がほぼ出そろった現在、性能の実証の段階にきている。要素技術開発を含め、現在行われている最先端の技術を紹介する。



【習得できる知識】

・GaNという材料の特徴
・縦型構造GaNパワーデバイスの他材料に対する優位性、差別化
・縦型構造GaNパワーデバイス開発の現状と展望


【第2講】 プレーナゲート型GaN縦型MOSFETデバイスの研究進展と今後の展望

【時間】 14:40-15:55

【講師】富士電機株式会社 先端技術研究所 田中 亮 氏

【講演主旨】

 縦型GaNデバイスは、Si、SiCに代わる次世代の低損失パワースイッチング素子として期待されている。近年のGaN自立基板技術発展に伴い、各種プロセス技術の開発が進められ、縦型GaNデバイスのポテンシャルの高さを実証するデータが得られてきているが、実用化に向けてはまだ多くの課題がある。特に、デバイス製造工数が少なく高速動作性に優れたプレーナゲート型MOSFETの実現には、イオン注入による電導性制御が不可欠である。本講演では、イオン注入によるプレーナゲート型GaN縦型MOSFET開発の現状、課題と今後の展望について、最新の研究成果を交えて概説する。



【プログラム】

1 イントロダクション
 1-1 背景
 1-2 縦型GaNパワーデバイスのメリット

2 プレーナゲート型GaN縦型MOSFETの実証検討
 2-1 イオン注入技術
 2-2 MOSチャネル特性制御
 2-3 プレーナゲート型GaN縦型MOSFET試作

3 最近の研究開発トピックス

4 今後の展望

【質疑応答】



【キーワード】

パワーデバイス、MOSFET、GaN(窒化ガリウム)、ワイドギャップ、縦型、イオン注入

【講演のポイント】

次世代の低損失パワースイッチング素子として期待されているプレーナゲート型GaN縦型MOSFETの開発動向と現状の課題について最新の研究成果を交えて解説する。

【習得できる知識】

縦型GaNパワーデバイス(プレーナゲート型MOSFET)の研究開発動向と課題の概要


【第3講】 縦型GaNパワーデバイスの真の社会実装に向けた QST x CFBによる新技術

【時間】 16:05-17:05

【講師】沖電気工業株式会社 グローバルマーケティングセンター CFB事業開発部 / 部長 谷川 兼一 氏

【講演主旨】

 カーボンニュートラル達成に向け、次世代パワー半導体は成長市場として注目されており、中でも縦型GaNパワーデバイスは、高い性能ポテンシャルのため期待されております。しかし、普及には課題があります。
 本セミナーでは、縦GaNの普及課題を明確化し、信越化学様のQST基板とOKIのCFB技術の共創による、縦型GaNの普及に向けた新技術をご紹介いたします。

※QSTは、Qromis Substrate Technologyの略。Qromis社(US)の米国登録商標。GaN成長専用の複合材料基板技術。2019年に信越化学様がライセンス取得。

※CFBは、Crystal Film Bondingの略。OKIの日本登録商標。結晶膜やデバイスを成長基板から剥離し異種材料基板へ接合する技術。



【プログラム】

1.次世代パワー半導体の動向
 1.1 取り巻く環境
 1.2 市場動向
 1.3 GaNの高い性能ポテンシャル
 1.4 GaNの課題

2.QSTの紹介
 2.1 QST基板構造と特長
 2.2 驚異的な特性の実現
 2.3 普及可能な大口径化の実現
 2.4 GaNデバイス実績とCFBとの親和性

3.CFBの紹介
 3.1 歴史
 3.2 量産実績
 3.3 技術概要
 3.4 ビジネスモデル

4.QST x CFBの課題解決
 4.1 縦型GaNの課題解決
 4.2 縦型GaNのプロセス提案

【質疑応答】



【キーワード】

カーボンニュートラル、次世代パワー半導体、縦型GaN、異種材料接合、CFB技術、QST基板


【講演のポイント】

次世代のパワー半導体技術として注目を集めるGaN(窒化ガリウム)。その優れたポテンシャルを最大限に引き出し、大口径化によるコスト効率の向上を実現するため、QST基板とCFB技術が融合。これにより、GaNデバイスの真の社会実装への新たな扉が開かれます。


【習得できる知識】

・次世代パワー半導体であるGaNデバイスの概要と課題、縦型GaNデバイスの大口径化の新たな技術、異種材料接合技術の応用

詳細

受講対象者の職種/職位
本テーマに関心のあるに携わる研究開発者・技術者・事業担当者
受講レベル
初~中級者向け
※受講レベルについて
受講についての補足
※領収書をご希望の方は、ご購入後にDeliveru(デリバル)にログインをして、領収書をダウンロードしてください。

※当講座では、同一部署の申込者様からのご紹介があれば、何名でもお1人につき16,500円で追加でお申し込みいただけます (申込者様は正規料金、お2人目以降は16,500円となります)。
2名以上の場合は、ファシオ・セミナー事務局までご連絡ください。
質問方法
セミナー担当 webinar@andtech.co.jp
配布資料
なし
※資料がある場合、動画の視聴ページからダウンロードができます。
※視聴期間の終了後はダウンロードできなくなります。
修了証の発行
なし
※「あり」の場合、動画の視聴ページからダウンロードができます。
※視聴期間の終了後はダウンロードできなくなります。
提供方法
Zoom配信

講師のプロフィール

講師名
第1部  東海国立大学機構 名古屋大学  特任教授  加地 徹 氏 第2部  富士電機株式会社  先端技術研究所  田中 亮 氏 第3部  沖電気工業株式会社  グローバルマーケティングセンター CFB事業開発部 / 部長  谷川 兼一 氏
経歴
第1部  東海国立大学機構 名古屋大学  特任教授  加地 徹 氏

第2部  富士電機株式会社  先端技術研究所  田中 亮 氏

2007年 名古屋大学 工学部 物理工学科 卒業
2009年 名古屋大学 工学研究科 結晶材料工学専攻 修了
2009年 富士電機株式会社入社
GaNパワーデバイスの研究開発に従事

第3部  沖電気工業株式会社  グローバルマーケティングセンター CFB事業開発部 / 部長  谷川 兼一 氏
close
ビジネスWEBセミナー番組表 ダウンロードはこちら